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WGL-8晶體電光調(diào)制實驗儀由電場所引起的晶體折射率的變化，稱為電光效應．通過利用典型的LiNbO3晶體橫向電光效應原理的激光振幅調(diào)制器的使用，掌握晶體電光調(diào)制的原理和實驗方法；學會用簡單的實驗裝置測量晶體半波電壓，電光常數(shù)；觀察電光效應引起的晶體光學特性的變化和會聚偏振光的干涉現(xiàn)象；進行激光通信演示實驗。

SGD-2 單光子計數(shù)實驗系統(tǒng) 該實驗系統(tǒng)，由單光子計數(shù)器，半導體制冷系統(tǒng)，外光路光學系統(tǒng)，光功率指示儀，工作軟件等組成。系統(tǒng)采用了脈沖高度甄別計數(shù)和數(shù)字計數(shù)技術，具有較高的線性動態(tài)范圍。輸出的數(shù)字信號，便于計算機處理，為教師做相關教學提供了必要的實驗環(huán)境。

XGS-1 電子散斑干涉實驗系統(tǒng) 電子散斑干涉（ESPI）實驗系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術、激光技術以及全息干涉技術相結合的一種現(xiàn)代光測技術。激光的高相干性使散斑現(xiàn)象顯而易見，采用CCD攝像機，使之可采用計算機處理數(shù)據(jù)和圖像。電子散斑干涉應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、振動測量等。

XGS-2 激光散斑照相實驗裝置 利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內(nèi)位移場的測試，以及由此引伸出來的應變，距離，速度測試，物體內(nèi)在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的應用領域。 實驗內(nèi)容 1、拍攝自由空間散斑和成像散斑圖，了解激光散斑現(xiàn)象及其特點 2、掌握二次曝光散斑圖的逐點分析和全場分析測物體面內(nèi)位移的方法

XGS-3 電子及激光散斑實驗系統(tǒng) 本實驗包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內(nèi)位移場的測試，以及由此引伸出來的應變、應力場測試、距離、速度測試、物體內(nèi)在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的應用領域。